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半导体集成电路专利申请

发布:2022-02-23 14:00,更新:2022-02-23 14:00

半导体集成电路专利申请质量,体现了专利申请代理公司的技术与专利水平。在确定半导体领域的发明实际解决的技术问题时,应该从本领域技术人员的解决问题的正常思路出发,考虑的是本领域技术人员在对比文件的基础上能够得到的技术问题,是本领域技术人员基于技术场景实际会面临的技术问题,而不是利用本发明的区别特征所推导出的技术问题。
       审查指南中规定,判断要求保护的发明相对于现有技术是否显而易见,通常可按照以下三个步骤进行:确定接近的现有技术、确定发明的区别特征和发明实际解决的技术问题、判断要求保护的发明对本领域的技术人员来说是否显而易见。,发明实际解决的技术问题,是根据审查员所认定的接近的现有技术重新确定发明实际解决的技术问题,是指为获得更好的技术效果而需对接近的现有技术进行改进的技术任务。

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判断要求保护的发明对本领域的技术人员来说是否显而易见,实际上要确定的是现有技术整体上是否存在某种技术启示,即现有技术中是否给出将上述区别特征应用到该接近的现有技术以解决其存在的技术问题的启示,这种启示会使本领域的技术人员在面对所述技术问题时,有动机改进该接近的现有技术并获得要求保护的发明。现有技术整体上能够提供技术启示的其中一种情况是,本申请相对于接近的现有技术的区别特征为另一份对比文件中披露的相关技术手段,该技术手段在该对比文件中所起的作用与该区别特征在要求保护的发明中为解决该重新确定的技术问题所起的作用相同。
       因而,审查创造性时,可以将多份现有技术中的不同的技术内容组合在一起对要求保护的发明进行评价,多份现有技术的结合需要以本领域技术人员面对特定问题有动机去改进接近的现有技术为基础。在半导体领域,经常会遇到要求保护的发明中利用“简单”的技术手段去接近“困难”的技术问题的案例,而这种“简单”的技术手段往往是本领域常规的技术手段,这些技术手段是否容易与接近的现有技术结合得到要求保护的发明的技术方案,是值得考究的。由此可知,审查员认为的技术问题是在看到要求保护的发明的技术方案之后,是利用要求保护的发明的区别技术特征反推出来的,而不是本领域技术人员在对比文件1的基础上客观会面临的技术问题。


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